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用于深度去除高纯碳化硅粉体中杂质元素的装置

摘要

用于深度去除高纯碳化硅粉体中杂质元素的装置,涉及碳化硅半导体用高纯碳化硅(5N+)的深度提纯技术装备。在石英管内腔设置坩埚,在远离观察甁的石英管端通过管道连接HCl供料装置,在石英管外部设置加热层;在喷淋装置内设置填料隔置层,在喷淋装置外布置碱液循环泵,碱液循环泵的出液口和进液口分别与喷淋装置的上、下端相连通。本实用新型结构简单、操作方便,可实现去除碳化硅粉体中硼、铝、钛、铁、钒等杂质元素,达到碳化硅高纯至5~6N的目的。

著录项

  • 公开/公告号CN209835645U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-12-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 扬州中天利新材料股份有限公司;

    申请/专利号CN201920256446.9

  • 发明设计人 李显坪;陈琦;唐宝发;

    申请日2019-02-28

  • 分类号

  • 代理机构扬州市锦江专利事务所;

  • 代理人江平

  • 地址 225000 江苏省扬州市邗江区甘泉街道双塘村花庄组

  • 入库时间 2022-08-22 11:54:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-24

    授权

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