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薄膜涂层色度分析设备和薄膜涂层分类系统

摘要

本实用新型提供了一种薄膜涂层色度分析设备和薄膜涂层分类系统,属于薄膜涂层色度分析技术领域。本实用新型提供了一种薄膜涂层色度分析设备,包括分光色度计、光源和待测样品;待测样品包括基材和设置在基材上表面的薄膜涂层;分光色度计和光源设置在待测样品的上方;光源与待测样品的距离为15‑35cm;直线A与直线B的夹角为1‑15°。通过薄膜涂层色度分析设备获得不同种类薄膜涂层的色度值,建立数据库,从而通过测定待测薄膜涂层色度值,结合数据库简单快速地判断薄膜涂层的种类,这种分类方法简单、快捷、实用,应用于类金刚石薄膜分类,可大幅度简化类金刚石薄膜分类过程,为实际应用于生产带来了极大的便利。

著录项

  • 公开/公告号CN209513603U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2019-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳先进技术研究院;

    申请/专利号CN201822143468.2

  • 发明设计人 唐永炳;周小龙;

    申请日2018-12-19

  • 分类号

  • 代理机构深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人吴乃壮

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号

  • 入库时间 2022-08-22 10:58:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-18

    授权

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