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一种半绝缘分子束外延缓冲层材料结构

摘要

本实用新型公开了一种半绝缘分子束外延缓冲层材料结构,在半绝缘GaAs衬底(1)上依次生长LT-GaAs缓冲层(2)、LT-GaAs/LT-AlGaAs多量子阱缓冲层(3)、LT-GaAs/LT-AlGaAs多量子阱缓冲层(4)、NT-AlGaAs缓冲层(5)。该材料结构在适当的低温生长条件下具有半绝缘的特性,可以增强集成电路芯片的电学隔离性能,提高静电防护能力。

著录项

  • 公开/公告号CN206602113U8

    专利类型

  • 公开/公告日2018-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 新磊半导体科技(苏州)有限公司;

    申请/专利号CN201720266986.6

  • 申请日2017-03-19

  • 分类号

  • 代理机构北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人沈波

  • 地址 215151 江苏省苏州市苏州高新区建林路666号出口加工区配套工业园28号厂房

  • 入库时间 2022-08-22 05:12:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-05

    实用新型专利更正 卷:33 号:44-01 页码:扉页 IPC(主分类):H01L0029060000 更正项目:专利权人 误:新磊半导体(苏州)有限公司 正:新磊半导体科技(苏州)有限公司 申请日:20170319

    实用新型专利更正

  • 2017-10-31

    授权

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