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一种基于量子探测层析技术的量子探测器的标定系统

摘要

本实用新型公开了一种基于量子探测层析技术的量子探测器的标定系统,包括单光子探测器、光学镜头和单光子探测器外框,所述单光子探测器的顶端设置有警示标识,且警示标识的右侧下方设置有铭牌,所述铭牌的下方设置有散热槽,所述散热槽的下方设置有底座;新型的量子标定系统可以在极少的前提条件下,通过重新构建的POVM矩阵精准全面的描述单光子探测器的量子特性,不仅可以实现“黑盒式”标定,可以完整的诠释单光子探测器的量子特征,可以验证单光子探测器的量子特性,研制的量子标定系统具有智能化、集成化和兼容性强的特点,可以完成常见的各种重复频率的近红外单光子探测器的量子标定。

著录项

  • 公开/公告号CN207215292U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2018-04-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海濠润电子科技有限公司;

    申请/专利号CN201721185305.X

  • 发明设计人 赵东洋;

    申请日2017-09-15

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 201114 上海市闵行区新骏环路189号第4层C423室

  • 入库时间 2022-08-22 04:33:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-10

    授权

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