公开/公告号CN207215292U
专利类型实用新型
公开/公告日2018-04-10
原文格式PDF
申请/专利权人 上海濠润电子科技有限公司;
申请/专利号CN201721185305.X
发明设计人 赵东洋;
申请日2017-09-15
分类号
代理机构
代理人
地址 201114 上海市闵行区新骏环路189号第4层C423室
入库时间 2022-08-22 04:33:23
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-04-10
授权
授权
机译: 校正量子计数探测器中计数率漂移的方法,具有量子计数探测器的X射线系统以及用于量子计数探测器的电路装置
机译: 在量子计数探测器中校正计数率漂移的方法,具有量子计数探测器的x射线系统和量子计数探测器的电路布置
机译: 量子点型红外探测器,量子点型红外探测器和量子点型红外成像装置