法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-12-26
授权
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机译: 制造接触结构的方法,该结构用于测试可完全吸收负载压力的半导体封装,应用于半导体封装的接触结构,用于测试半导体封装的接触结构以及用于封装的半导体封装的方法
机译: 一种用于访问集成电路中的存储单元的方法,一种用于确定一组字线电压-集成电路中的标识符的方法,一种用于对集成电路中的存储单元进行分类的方法,一种用于确定集成电路中的字线电压的方法访问集成电路中的存储单元和集成电路
机译: 壳体内容纳半导体芯片的半导体封装中的热阻的计算方法,可以应用于带有散热片的半导体封装的计算