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基于Si衬底AlGaN/GaN异质结基的增强型HEMT器件

摘要

本实用新型提供了基于Si衬底AlGaN/GaN异质结基的增强型HEMT器件。该器件包括:Si衬底(101)、AlN成核层(102)、AlGaN过渡层(103‑105)、AlGaN缓冲层(106)、低温AlN插入层(107)、AlGaN主缓冲层(108)、AlGaN/GaN超晶格层(109)、GaN沟道层(110)、AlGaN势垒功能层(111),顶端两侧是源电极(112)和漏电极(113)、顶端中间是栅电极(116),中间AlGaN势垒功能层(111)被刻穿形成凹槽,凹槽的底部与GaN沟道层(110)相接触,凹槽底部淀积有钝化保护层(114)和栅介质层(115),介质层上面是栅电极(116)。采用实用新型制备的器件具有高阈值电压、高击穿电压、高电流密度、以及优良的夹断特性,而且制造工艺简单,重复性好的特点,适用于高压大功率电子器件等应用。

著录项

  • 公开/公告号CN206697485U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2017-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201621487329.6

  • 发明设计人 王洪;周泉斌;李祈昕;

    申请日2016-12-31

  • 分类号

  • 代理机构广州粤高专利商标代理有限公司;

  • 代理人何淑珍

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2022-08-22 03:17:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-11

    避免重复授予专利权 IPC(主分类):H01L29/778 授权公告日:20171201 放弃生效日:20181211 申请日:20161231

    避免重复授权放弃专利权

  • 2017-12-01

    授权

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