确定反射表面的均匀度的系统、表面分析设备和系统

摘要

本专利申请涉及用于确定反射表面的均匀度的系统、确定设备外壳的表面的均匀度的系统、表面分析设备以及表面分析系统。确定反射表面的均匀度的系统包括：能够执行图像分析的计算设备；耦接到计算设备的光发射设备和光捕获设备，其中光发射设备被配置为将光图案发射到反射表面上，光图案包括限定形状阵列的多个断开连接的点，光捕获设备被配置为从反射表面接收反射光图案，计算设备被配置为对反射光图案执行图像分析，以便提供对反射表面的表面均匀度的估计，图像分析包括计算由反射光图案限定的多个反射多边形中的每个反射多边形的面积。