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CMOS接触式荧光检测分析阵列传感芯片

摘要

CMOS接触式荧光检测分析阵列传感芯片,包括芯片本体,所述的芯片本体包括硅胶衬底、SU-8厚胶、信号处理电路、光电传感阵列、有源预处理放大阵列和异步时序控制电路,SU-8厚胶固定在所述的硅衬底上表面,SU-8厚胶上设置至少一个荧光反应池组,每个荧光反应池组由至少一个微反应池成;位于荧光反应池组正下方的硅胶衬底上铺设相应的信号处理电路、光电传感阵列、有源预处理放大阵列和异步时序控制电路;信号处理电路的信号输出端与压焊块连接。本发明有益效果是:光电PN结二极管可将荧光转换成光电流;光电PN结二极管与有源信号处理电路单片集成,减少信号传递损耗和实现检测微型化;微反应池可进行单个或多个样品同时检测。

著录项

  • 公开/公告号CN103604784B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江工业大学;

    申请/专利号CN201310542472.5

  • 发明设计人 施朝霞;曹全君;李如春;

    申请日2013-11-05

  • 分类号

  • 代理机构杭州天正专利事务所有限公司;

  • 代理人王兵

  • 地址 310014 浙江省杭州市下城区潮王路18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:40:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-18

    授权

    授权

  • 2014-03-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20131105

    实质审查的生效

  • 2014-02-26

    公开

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