首页> 中国专利> 用于快速评估快恢复二极管性能的基座

用于快速评估快恢复二极管性能的基座

摘要

本实用新型涉及一种用于快速评估快恢复二极管性能的基座,其特征是:包括耐高温硬质绝缘固定框架,在耐高温硬质绝缘固定框架中嵌入阳极金属引线框架和阴极金属引线框架,阳极金属引线框架和阴极金属引线框架之间保持一定的距离;所述阳极金属引线框架的部分表面、阴极金属引线框架的部分表面以及耐高温硬质绝缘固定框架的部分表面在同一平面上,该平面为二极管芯片的贴片平面;所述阳极金属引线框架和阴极金属引线框架各有部分露出与耐高温硬质绝缘固定框架之外,分别形成相互平行的阳极管脚和阴极管脚,阳极管脚和阴极管脚所形成的平行平面与贴片平面平行。本实用新型所述基座可以对快恢复二极管芯片直接贴片和打线后直接进行静态和动态性能评估。

著录项

  • 公开/公告号CN206388679U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2017-08-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏中科君芯科技有限公司;

    申请/专利号CN201621458524.6

  • 发明设计人 程炜涛;许生根;王海军;叶甜春;

    申请日2016-12-29

  • 分类号

  • 代理机构无锡市大为专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人曹祖良

  • 地址 214135 江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号中国传感网国际创新园D2栋五层

  • 入库时间 2022-08-22 02:49:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-08

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号