公开/公告号CN204008074U
专利类型实用新型
公开/公告日2014-12-10
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉光驰科技有限公司;
申请/专利号CN201420470275.7
申请日2014-08-20
分类号G01M11/02(20060101);
代理机构42113 武汉楚天专利事务所;
代理人孔敏
地址 430000 湖北省武汉市东湖高新技术开发区光谷大道111号光谷芯中心科技园1-02幢3层303号
入库时间 2022-08-22 00:23:08
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-08-07
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M11/02 授权公告日:20141210 终止日期:20190820 申请日:20140820
专利权的终止
2016-11-30
专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01M11/02 变更前: 变更后: 申请日:20140820
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2014-12-10
授权
授权
机译: 光电探测器的光谱特性测量装置和方法以及光电探测器的内量子效率测量装置和方法,能够提供均匀的光谱光并测量精确的光谱响应
机译: 光电探测器的光谱特性测量仪器,光谱特性测量方法,内部量子效率测量仪器和内部量子效率测量方法
机译: 调制频率特性测量装置和光电探测器的测量方法