要解决的问题:提供一种无需使用参考光电探测器即可准确测量待测光探测器的频率特性的方法及其测量装置。
解决方案:来自光源9的光由振荡器12驱动的外部调制器10、11进行强度调制,并向其照射用于待测光的检测器14,并且由光源12检测到的光的强度。检测器14被转换成电信号,从而通过频率分析仪测量强度。在这种情况下,仅需要确认光源9或外部调制器10、11的调制特性可以在目标频率范围内工作,并且不需要知道精确的调制特性。
版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP4009726B2
专利类型
公开/公告日2007-11-21
原文格式PDF
申请/专利权人 独立行政法人産業技術総合研究所;
申请/专利号JP20030380808
申请日2003-11-11
分类号G01M11/00;H01L31/10;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:17:37