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一种基于双芯光纤干涉条纹的生成和采集测量装置

摘要

本实用新型公开了一种基于双芯光纤干涉条纹的生成和采集测量装置,还包括干涉条纹的生成以及条纹的投射与采集处理;其中干涉条纹的生成在信号部整体框架中,LD光源由光纤耦合器分成两路光纤传输,其中光纤一部分缠绕在压电陶瓷PZT上,光纤一与另一路光纤二集合到双芯光纤,双芯光纤干涉经由光纤发射端发射,经过反光镜投射到被测物表面;采集处理的测量部整体框架中反光镜的反射光线通过透镜、孔径光阑、准直透镜至CCD摄像机;测头支撑结构在反光镜下;光纤发射端下设有螺纹调整机构。计算机分析变形条纹获得被测物表面三维信息,适用于狭小空间内物体三维形貌测量,具有测量速度快及测量精度高的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN203732041U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2014-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖北汽车工业学院;

    申请/专利号CN201320702271.2

  • 发明设计人 张伟;

    申请日2013-11-08

  • 分类号

  • 代理机构十堰博迪专利事务所;

  • 代理人宋志雄

  • 地址 442002 湖北省十堰市十堰市车城西路167号

  • 入库时间 2022-08-22 00:11:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B11/24 授权公告日:20140723 终止日期:20161108 申请日:20131108

    专利权的终止

  • 2014-07-23

    授权

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