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一种用于光学特性参数测试的LED外延结构

摘要

本实用新型公开一种用于光学特性参数测试的LED外延结构,其包括在衬底上依次形成的缓冲层、第一半导体层、量子阱层、第二半导体层,在第二半导体层上设有第一透明导电层,LED外延结构中设有封闭的隔离槽,隔离槽环绕部分LED外延结构,形成测试岛,测试岛作为测试区域;其中,隔离槽至少贯穿第一透明导电层、第二半导体层和量子阱层,并且隔离槽位于缓冲层之上。另外,在第一透明导电层上还设有第二透明导电层,第二透明导电层向测试岛周围延伸而形成延伸部,该延伸部用于放置接触电极。本实用新型的用于光学特性参数测试的LED外延结构,将测试区域面积固定,并且将接触电极与测试岛的接触面积固定,在测试过程中提高了测试的精度以及准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN203351640U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2013-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 光垒光电科技(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201320387474.7

  • 发明设计人 梁秉文;

    申请日2013-07-01

  • 分类号

  • 代理机构深圳市铭粤知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨林

  • 地址 200050 上海市长宁区延安西路889号1106B室

  • 入库时间 2022-08-21 23:59:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L33/04 授权公告日:20131218 终止日期:20140701 申请日:20130701

    专利权的终止

  • 2013-12-18

    授权

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