首页> 中国专利> 三维显微光切法表面粗糙度测量仪

三维显微光切法表面粗糙度测量仪

摘要

本实用新型公开了一种三维显微光切法表面粗糙度测量仪,包括有可升降载物台,在可升降载物台上放有待测工件,在待测工件的正上方固定有显微成像系统,所述的显微成像系统从上到下依次包括有工业CCD相机、镜筒透镜和无限远校正显微镜,在待测工件的斜上方转动的安装有半导体激光器。本实用新型是一种非接触的测量方法,测量稳定性好,易于维护;完成测量仪标定后,可以直接获取表面粗糙度值,无需因材料和加工方式的不同反复执行标定操作;适用于车、铣、刨等加工方式制造的金属零部件的平面或外圆表面;测量速度快,只要拍摄一幅工件表面微观形貌的图像,即可求得表面粗糙度值R

著录项

  • 公开/公告号CN203337113U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2013-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥米克光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201320319254.0

  • 发明设计人 卢荣胜;

    申请日2013-06-04

  • 分类号

  • 代理机构安徽合肥华信知识产权代理有限公司;

  • 代理人余成俊

  • 地址 230601 安徽省合肥市经济技术开发区芙蓉路北芙蓉路2号A厂房

  • 入库时间 2022-08-21 23:58:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-12-11

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号