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余贵华; 樊瑜瑾;
云南工业大学,昆明,650051;
光切法; 三维表面形貌; 表面粗糙度测量;
机译:通过扫描电子显微镜测量表面形貌。二。第二维和第三维中三个表面粗糙度估计量的分析
机译:使用断面显微镜的表面形貌三维测量技术
机译:微干涉术:通过反射干涉对比显微镜(RICM)对薄膜和润湿研究进行表面微观形貌的三维重建
机译:用于缝合通过显微镜型表面分析仪器测量的一系列三维表面形貌数据的计算方法
机译:研究了聚苯乙烯薄膜玻璃化转变附近的表面形貌,以及由于激光加工导致磷化铟表面形貌的变化。
机译:用于表面形貌测量和定量分析的光片显微镜
机译:关于“讨论”单头侧向力显微镜(1995,Asme J. Trick)的表面形貌和摩擦力同时测量“讨论”表面形貌和摩擦力的讨论。,117,p。340)
机译:电子显微镜在磨损表面形貌和亚表面微观结构研究中的应用
机译:使用光切法以高横向,垂直分辨率进行表面测量涉及参考表面上的测量点位置存储值,因此通过光切法测量的区域,高度传感器方法重叠
机译:扫描隧道显微镜和表面形貌研究的方法
机译:用于测量二维或三维胶片形貌的测量设备,用于生产胶片卷的设备,用于在线识别二维或三维胶片形貌中的缺陷图像的方法。控制薄膜网的生产过程以防止缺陷的方法,控制薄膜网的生产过程以防止缺陷的方法,在线平直度确定的方法,生产薄膜网的设备和在线第一误差的确定方法特定平面度误差
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