首页> 中国专利> 一种用于频率合成器的超低相位噪声基准信号产生装置

一种用于频率合成器的超低相位噪声基准信号产生装置

摘要

本实用新型涉及一种用于频率合成器的超低相位噪声基准信号产生装置,该基准信号产生装置包括依次连接的晶体振荡器、第一锁相环路和第二锁相环路,其中所述第一锁相环路包括依次连接的第一鉴相器、第一环路滤波器、压控晶体振荡器,所述压控振荡器和所述第一鉴相器的反馈输入端相连;所述第二锁相环路包括依次连接的第二鉴相器、第二环路滤波器和压控声表振荡器;该压控声表振荡器和所述第二鉴相器的反馈输入端相连。所述超低相位噪声基准信号产生装置产生的基准信号的相位噪声为各个振荡器在不同频偏处的最佳值,在各个频偏处基准信号都能取得最佳的相位噪声。

著录项

  • 公开/公告号CN202475398U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2012-10-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN201220083732.8

  • 申请日2012-03-07

  • 分类号

  • 代理机构北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人王德桢

  • 地址 100854 北京市海淀区北京142信箱408分箱

  • 入库时间 2022-08-21 23:35:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H03L7/083 授权公告日:20121003 终止日期:20150307 申请日:20120307

    专利权的终止

  • 2012-10-03

    授权

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