智能卡芯片存储器的神经网络测试模块及测试系统

摘要

本实用新型公开了一种智能卡芯片存储器的神经网络测试模块及测试系统，神经网络测试模块与多个存储器连接，包括测试控制模块、响应分析模块和数据选择模块，测试控制模块用于接收系统时钟源提供的时钟信号、下载模块提供的使能信号和复位信号作为输入信号，并为每一存储器输出一组测试信号；数据选择模块，用于针对测试控制模块的输出信息，选择出要向不同的存储器输入的信息；响应分析模块，包括响应分析器及解码控制器，该解码控制器，用于将从多个不同的存储器返回的错误信息同时解析出来，并从一个输出端口输出提示各个存储器的错误信息。本实用新型可在大批量生产智能卡芯片的过程中实现高效测试智能卡芯片存储器。