温度传感器最终测试用温度校准系统

摘要

本实用新型公开了一种温度传感器最终测试用温度校准系统，包括测试机、待测芯片以及参考芯片，所述测试机分别连接所述待测芯片和所述参考芯片，所述参考芯片设置在所述待测芯片附近，用来采集所述待测芯片附近的温度信息，并将该温度信息发送给所述测试机，所述测试机还接收所述待测芯片采集的温度信息，并将待测芯片的所采集的温度信息校准到与所述参考芯片一致。本实用新型通过采用参考芯片对待测芯片周围的温度进行测试，使得测试机能够准确的对待测温度传感器芯片进行校准，从而提高了温度传感器的准确性。