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用于太阳电池片氮化硅膜致密性测量的载片

摘要

本实用新型提供了一种用于太阳电池片氮化硅膜致密性测量的载片,该载片为方形薄片,中间设有一个用于放置电池片的方形凹槽。本实用新型的载片用于太阳电池片氮化硅膜致密性测量时,是将太阳电池片固定放置在载片的凹槽内,然后用可伸缩的钩子插入载片的两个挂钩孔内勾住载片,再一起放入一个盛有HF溶液的方形容器内进行腐蚀,可以清晰地观察到膜色的变化,能够很直观的判断太阳电池片氮化硅膜致密性的好坏。

著录项

  • 公开/公告号CN201222056Y

    专利类型

  • 公开/公告日2009-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海太阳能科技有限公司;

    申请/专利号CN200820059214.6

  • 发明设计人 许瑞峰;

    申请日2008-05-30

  • 分类号

  • 代理机构上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨元焱

  • 地址 201108 上海市闵行区莘庄工业区申南路555号

  • 入库时间 2022-08-21 23:02:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-08-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N31/00 授权公告日:20090415 终止日期:20110530 申请日:20080530

    专利权的终止

  • 2009-04-15

    授权

    授权

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