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自对准接触孔的小尺寸MOSFET结构及制作方法

摘要

本发明公开了一种自对准接触孔的小尺寸MOSFET的制作方法,包括步骤:1)刻蚀沟槽,生长栅氧,淀积多晶硅并回刻;3)生长衬垫氧化层,进行体区、源区注入及热退火;4)淀积氮化硅和LPTEOS;5)回刻除去TEOS和氮化硅;6)淀积层间介质层并平坦化;7)涂布光刻胶,曝光接触孔;然后除去光刻胶,干法刻蚀层间介质层至硅表面,再进行硅刻蚀,形成接触孔底部沟槽。本发明还公开了应用上述方法制作的MOSFET结构。本发明通过在传统制造工艺基础上,增加一层SiN和LPTEOS的淀积和刻蚀,实现了接触孔与栅极沟槽的自对准,从而在不增加光刻层数的前提下,解决了元胞尺寸缩小过程中遇到的接触孔套准精度问题。

著录项

  • 公开/公告号CN103545364B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201210239999.6

  • 发明设计人 邵向荣;张朝阳;

    申请日2012-07-11

  • 分类号H01L29/78(20060101);H01L29/10(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘昌荣

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2022-08-23 09:38:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-13

    授权

    授权

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20120711

    实质审查的生效

  • 2014-02-19

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L 29/78 变更前: 变更后: 登记生效日:20140117 申请日:20120711

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-01-29

    公开

    公开

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