公开/公告号CN103545364B
专利类型发明专利
公开/公告日2016-04-13
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;
申请/专利号CN201210239999.6
申请日2012-07-11
分类号H01L29/78(20060101);H01L29/10(20060101);H01L21/336(20060101);
代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;
代理人刘昌荣
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
入库时间 2022-08-23 09:38:30
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-04-13
授权
授权
2014-03-12
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/78 申请日:20120711
实质审查的生效
2014-02-19
专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L 29/78 变更前: 变更后: 登记生效日:20140117 申请日:20120711
专利申请权、专利权的转移
2014-01-29
公开
公开
机译: 将半导体器件的接触孔形成为易于形成的自对准接触图案和所需大尺寸塞子的方法
机译: 将半导体器件的接触孔形成为易于形成的自对准接触图案和所需大尺寸塞子的方法
机译: 用于改进自对准接触MOSFET器件结构中的接触和栅极之间的电隔离的方法