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一种BiCMOS工艺中寄生N-I-P型PIN器件结构及其制造方法

摘要

本发明公开了一种BiCMOS工艺中寄生N-I-P型PIN器件结构,包括:P型衬底上方形成有有源区,P型赝埋层形成于有源区中,P型赝埋层上方形成有多个浅沟槽隔离,浅沟槽隔离放上形成有多晶硅层,有源区上方形成有发射区,发射区与多晶硅层交替排列,发射区通过接触孔引出连接金属连线,P型赝埋层通过深接触孔引出连接金属连线,深接触孔中具有钛或锡和钨。本发明还公开了一种BiCMOS工艺中寄生N-I-P型PIN器件结构的制造方法。本发明的寄生N-I-P型PIN器件结构及其制造方法能增加PIN器件的正向导通电流,增加PIN器件的有效面积,降低PIN器件的插入损耗。

著录项

  • 公开/公告号CN103123931B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201110372027.X

  • 申请日2011-11-21

  • 分类号

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁纪铁

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2022-08-23 09:38:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-13

    授权

    授权

  • 2014-02-12

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L 29/73 变更前: 变更后: 登记生效日:20140116 申请日:20111121

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-06-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/73 申请日:20111121

    实质审查的生效

  • 2013-05-29

    公开

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