光学元件厚度的光学测量仪器

摘要

一种用于测量光学元件厚度的光学测量仪器，属于测量和测试装置。它由麦克尔逊干涉系统组成的，根据白光干涉条纹定位并将被测光学元件与标准块比较，对当前尚未解决的胶合透镜。可见光不透明的光学元件，未知材料的光学元件和无法预知厚度且误差不大于百分之五毫米的光学元件实现非接触测量，同时减少测试成本和测试时间。