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一种GaAs纳米线阵列光电阴极及其制备方法

摘要

本发明公开了一种GaAs纳米线阵列光电阴极及其制备方法,该阴极由GaAs衬底层、GaAs纳米线阵列发射层以及Cs/O激活层组成;在一定厚度的GaAs衬底上,采用干法刻蚀技术制备GaAs纳米线阵列材料,在超高真空激活系统中制备GaAs纳米线阵列光电阴极,GaAs纳米线材料激活成光电阴极后,将在整个纳米线周围吸附一层Cs-O层,产生负电子亲和势,从而在GaAs纳米线上形成一个中间高,四周低的能带结构。纳米线阵列结构有利于光子吸收,而纳米线光电阴极能带结构则有利于光电子发射,从而提高材料的光子吸收和电子发射效率。

著录项

  • 公开/公告号CN103594302B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东华理工大学;

    申请/专利号CN201310580290.7

  • 申请日2013-11-19

  • 分类号H01J1/34(20060101);H01J9/12(20060101);B82Y40/00(20110101);

  • 代理机构36115 南昌新天下专利商标代理有限公司;

  • 代理人施秀瑾

  • 地址 330013 江西省南昌市经开区广兰大道418号

  • 入库时间 2022-08-23 09:37:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01J1/34 授权公告日:20160323 终止日期:20161119 申请日:20131119

    专利权的终止

  • 2016-03-23

    授权

    授权

  • 2014-03-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J1/34 申请日:20131119

    实质审查的生效

  • 2014-02-19

    公开

    公开

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