首页> 中国专利> 使用等离子体增强氧化钝化的硅蚀刻

使用等离子体增强氧化钝化的硅蚀刻

摘要

提供了通过在硅层上形成的图案化掩模蚀刻硅层的方法和装置。所述硅层放置于蚀刻室中。提供包括含氟气体和含氧、氢气体的蚀刻气体进入所述蚀刻室。由所述蚀刻气体产生等离子体,使用所述等离子体蚀刻特征到所述硅层中。然后停止所述蚀刻气体。所述等离子体可含有OH自由基。

著录项

  • 公开/公告号CN102187435B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 朗姆研究公司;

    申请/专利号CN200980140632.5

  • 申请日2009-10-09

  • 分类号H01L21/3065(20060101);

  • 代理机构31263 上海胜康律师事务所;

  • 代理人周文强;李献忠

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:33:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    授权

    授权

  • 2011-11-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/3065 申请日:20091009

    实质审查的生效

  • 2011-09-14

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号