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超声提高SU-8光刻胶与金属基底界面结合强度的方法

摘要

本发明公开了一种通过超声技术来提高SU-8光刻胶与金属基底界面结合强度的方法,属于微制造技术领域,特别涉及到提高SU-8光刻胶与金属基底界面结合强度的方法。其特征是:在光刻过程中,在后烘之后、显影之前进行超声处理来提高SU-8光刻胶与金属基底界面结合强度,区别于传统的SU-8胶光刻工艺流程“研磨和清洗金属基底—旋涂SU-8光刻胶—前烘—曝光—后烘—显影”,该方法采用“研磨和清洗金属基底—旋涂SU-8光刻胶—前烘—曝光—后烘—超声处理—显影”。本发明的效果和益处是通过在SU-8胶光刻的过程中对胶层进行超声处理,使SU-8光刻胶与金属基底界面结合强度提高了58.7%,具有简单、高效、经济的特点,能够显著地提高胶模的尺寸精度和可靠性,从而提高微器件的成品率。

著录项

  • 公开/公告号CN103436923B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201310205724.5

  • 申请日2013-05-28

  • 分类号C25D1/10(20060101);G03F7/26(20060101);

  • 代理机构21200 大连理工大学专利中心;

  • 代理人侯明远

  • 地址 116024 辽宁省大连市凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:32:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C25D1/10 授权公告日:20151223 终止日期:20190528 申请日:20130528

    专利权的终止

  • 2015-12-23

    授权

    授权

  • 2014-01-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):C25D1/10 申请日:20130528

    实质审查的生效

  • 2013-12-11

    公开

    公开

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