公开/公告号CN1187809C
专利类型发明授权
公开/公告日2005-02-02
原文格式PDF
申请/专利权人 华邦电子股份有限公司;
申请/专利号CN01119768.4
申请日2001-05-21
分类号H01L21/66;
代理机构上海专利商标事务所;
代理人任永武
地址 台湾省新竹市新竹科学工业园区研新三路4号
入库时间 2022-08-23 08:57:14
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2005-02-02
授权
授权
2003-03-19
实质审查的生效
实质审查的生效
2002-12-25
公开
公开
2001-09-19
实质审查的生效
实质审查的生效
机译: 长时间恒定电路级的测试电路及相应的测试方法
机译: 长时间电路阶段的测试电路及相应的测试方法
机译: 长时间恒定电路级的测试电路及相应的测试方法