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时间间隔测试电路、时间间隔测试方法以及测距系统

摘要

本申请提供一种时间间隔测试电路、时间间隔测试方法以及测距系统,时间间隔测试电路包括时间间隔记录模块;延时模块,延时模块与时间间隔记录模块连接,延时模块用于输出具有预设时间间隔的计时信号和延时记录信号;其中,时间间隔记录模块根据计时信号和延时记录信号记录测试时间间隔,以根据预设时间间隔和测试时间间隔判断时间间隔记录模块的精度。本申请通过延时记录信号替代单光子雪崩二极管产生的信号来触发时间间隔记录模块,从而可以对时间间隔记录模块进行无激光源、无单光子雪崩二极管的测试标定过程,进而对于时间间隔记录模块的测试可以不用在整个ToF模组封装完成后再进行,以避免模组上其他芯片和封装物料的浪费现象。

著录项

  • 公开/公告号CN114089318A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉市聚芯微电子有限责任公司;

    申请/专利号CN202111415921.0

  • 发明设计人 把傲;宫廷;

    申请日2021-11-25

  • 分类号G01S7/497(20060101);G01R31/28(20060101);

  • 代理机构44570 深圳紫藤知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘茂源

  • 地址 430270 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号未来科技城C4栋9楼

  • 入库时间 2023-06-19 14:17:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/497 专利申请号:2021114159210 申请日:20211125

    实质审查的生效

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