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确定稀疏微波成像方位向采样序列的方法

摘要

本发明提供了一种确定稀疏微波成像方位向采样序列的方法。该方法包括:步骤A:由稀疏微波成像系统的指标要求确定其方位向采样率f

著录项

  • 公开/公告号CN104142500B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-08-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电子学研究所;

    申请/专利号CN201410415740.1

  • 发明设计人 蒋成龙;赵曜;张冰尘;洪文;

    申请日2014-08-21

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人曹玲柱

  • 地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号

  • 入库时间 2022-08-23 09:28:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-12

    授权

    授权

  • 2014-12-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 13/89 申请日:20140821

    实质审查的生效

  • 2014-11-12

    公开

    公开

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