方位序列图像空间结构采样方法研究

摘要

为了实现对产品表面的快速自动无损检测,需获取产品在全周向视角下垂直于光路的图像序列,在系统固有分辨率保证能识别最小结构尺寸的前提下,提出了方位序列图像空间结构采样方法.针对产品表面不同空间分辨率区域,采用垂直投影法确定其必须的最大周向旋转步长,由最小二乘法建立采样旋转步长与产品表面待识别结构尺寸及空间分辨率之间的数学关系模型.实验表明,空间分辨率与旋转步长及待识别结构尺寸的关系模型拟合度0.9211,待识别结构尺寸(x)与旋转步长(y)的关系模型拟合度0.9996,空间分辨率(x)与待识别结构尺寸(y)的关系模型拟合度0.9997,为空间采样提供了理论指导依据.