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一种基于光栅剪切干涉检测系统的微透镜定焦检测方法

摘要

本发明涉及一种基于光栅剪切干涉检测系统的微透镜定焦检测方法,属于光学检测技术领域,该方法利用郎奇光栅的0级和1级衍射光干涉产生的条纹完成对微透镜的定焦测量:平行光经过郎奇光栅时,由于光栅的衍射效应产生0级和1级衍射光斑;根据衍射光波前相位变化,当光栅位于微透镜焦面上时,光斑重叠区域没有干涉条纹;当光栅位于离焦位置时,光斑重叠区域将由于位相差异产生干涉条纹;通过不同离焦位置的条纹周期变化,即可计算光栅的离焦量从而完成微透镜的定焦测量。本发明根据物理光学理论,定量分析光栅离焦量与条纹周期的关系,通过光栅在焦前和焦后两次离焦时条纹周期的不同,计算两次离焦量,从而完成微透镜及其阵列元件的定焦。

著录项

  • 公开/公告号CN102889980B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;

    申请/专利号CN201210390365.0

  • 发明设计人 朱咸昌;伍凡;曹学东;吴时彬;

    申请日2012-10-15

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明

  • 地址 610209 四川省成都市双流350信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:27:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-07-15

    授权

    授权

  • 2013-03-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20121015

    实质审查的生效

  • 2013-01-23

    公开

    公开

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