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InP HBT小信号模型的参数提取方法

摘要

本发明公开了一种InP HBT小信号模型的参数提取方法,主要解决现有技术的提取过程繁杂、提取结果不够精确的问题。其技术方案是,采用开路焊点结构和短路焊点结构,对等效电路分析,进行寄生参数的提取;采用集电极开路状态,对等效电路分析,进行外部电阻参数的提取;运用电路网络理论,分析InP HBT器件本征部分的散射参数S、阻抗参数Z、导纳参数Y;采用层层剥离的方法,为每一个本征模型参数确定一个固定的表达式,进行提取本征参数。本发明具有提取参数精确、快速且直观的优点。仿真结果表明,本发明提取的小信号模型结果与实际器件测试结果的散射参数S能很好的拟合,可用于指导电路设计以及确定大信号模型外围电路。

著录项

  • 公开/公告号CN103077290B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201310028044.0

  • 申请日2013-01-24

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华;朱红星

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:27:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-07-15

    授权

    授权

  • 2013-06-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20130124

    实质审查的生效

  • 2013-05-01

    公开

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