实现芯片功能故障快速调试定位的方法及其调试电路

摘要

本发明公开了一种实现芯片功能故障快速调试定位的方法，在芯片电路内嵌入一调试电路，当芯片出现功能故障时，通过该芯片的一个或多个管脚输入一段预定义好的信号使芯片进入调试模式；然后由芯片内部的CPU向一寄存器写入对待观察的芯片内部信号的选择数值，对待观察的芯片内部信号进行选择；选择好的芯片内部信号通过芯片的一个预定义好的管脚进行输出；通过观察芯片工作过程中某些内部信号的波形，并与设计时该信号的期望波形相比较，实现功能故障的调试与定位。本发明还公开了实现所述方法中的调试电路。在芯片出现功能故障后，本发明能够快速低成本的实现芯片故障的调试和定位。