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一种渐变AlGaN层的制备方法及采用该方法得到的器件

摘要

本发明涉及半导体技术领域,更具体地涉及一种渐变AlGaN层的制备方法及采用该方法得到的器件。在生长渐变AlGaN层时,通入反应室的三甲基铝流量逐渐减少,三甲基镓流量逐渐增加;三甲基铝流量的函数为:yTMAl=a-bxm或yTMAl=a(1-x)m+b;三甲基镓流量的函数为:yTMGa=cxn+d或yTMGa=c-d(1-x)n;x为渐变AlGaN层生长的归一化时间,m、n不同时为1。本发明利用不同的流量函数,改变TMAl和TMGa在不同流量时的变化率。从而能够有效地控制铝组分在渐变AlGaN层中的分布,进而调控其上生长的GaN薄膜的应力和晶体质量,生长出高晶体质量且不龟裂的厚GaN薄膜。

著录项

  • 公开/公告号CN103117209B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中山大学;

    申请/专利号CN201310040189.2

  • 发明设计人 张佰君;杨亿斌;

    申请日2013-02-01

  • 分类号H01L21/02(20060101);H01L29/20(20060101);

  • 代理机构44102 广州粤高专利商标代理有限公司;

  • 代理人禹小明

  • 地址 510275 广东省广州市新港西路135号中山大学

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-13

    授权

    授权

  • 2013-06-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20130201

    实质审查的生效

  • 2013-05-22

    公开

    公开

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