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一种改进的薄层核子密度计

摘要

本发明提供一种改进的薄层核子密度计,包括:一具有一垂直贯通的腔体和一底座的核子计壳体;一位于所述壳体内并和所述壳体的底座相邻的第一位置的第一辐射检测器;一位于所述壳体内并和所述壳体的底座相邻的第二位置的第二辐射检测器;一延伸到所述核子计壳体的腔体中的可以垂直运动的源杆;一被可操作地设置在所述源杆远端内的辐射源;至少一个轴承,其在操作上被设置来在腔体内引导所述源杆;以及用于向着多个预定的源杆位置使源杆垂直地延伸和缩回的装置,以便改变辐射源和所述第一和第二辐射检测器之间的空间关系。所述源杆在每个预定位置具有小于大约0.003英寸(0.008cm)的最大径向运动。本发明还提供一种具有改进的辐射屏蔽装置的仪器,包括一滑块,其在操作上被设置来在所述第一位置和第二位置之间沿横向运动;一和所述滑块啮合并使所述滑块偏置到第一位置的弹簧;以及一固定块,所述固定块包括和所述滑块啮合并引导所述滑块运动的轨道。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/20 授权公告日:20040707 终止日期:20140302 申请日:20000302

    专利权的终止

  • 2004-07-07

    授权

    授权

  • 2002-04-10

    公开

    公开

  • 2002-04-03

    实质审查的生效

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