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使用光学显微镜和粒子束显微镜的序列来显微检查对象

摘要

为了使用光学显微镜(10)和粒子束显微镜(12)的组合对对象(8)进行显微检查,使用了一种显微镜载物片系统(1),该系统包括:导电支架(2),其中至少一个窗口(3、17、18)配置于支架(2)中,以及其中支架(2)优选地具有用于光学显微镜(10)的标准玻璃显微镜载物片的尺度;显微镜载物片元件(7、19),其设计成承载用于显微检查的对象(8)并且设计成使得该元件可以放置在窗口(3、17、18)上方;以及紧固装置(5、6、22、25),其设计成将显微镜载物片元件(7、19)固定在窗口(3、17、18)上方。借助所述显微镜载物片系统(1),可以使用分开的显微镜来分析对象(8),而不必重定位对象。

著录项

  • 公开/公告号CN102422198B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 卡尔蔡司公司;

    申请/专利号CN201080020680.3

  • 申请日2010-05-07

  • 分类号G02B21/34(20060101);H01J37/00(20060101);

  • 代理机构北京华夏博通专利事务所(普通合伙);

  • 代理人刘俊

  • 地址 德国奥伯科亨市

  • 入库时间 2022-08-23 09:23:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-01-21

    授权

    授权

  • 2012-05-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 21/34 申请日:20100507

    实质审查的生效

  • 2012-04-18

    公开

    公开

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