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透明介质折射率的测量装置及测量方法

摘要

本发明提供一种利用激光回馈原理来测量透明介质折射率的装置。其特征在于:它以待测样品的位移产生的激光回馈条纹为研究对象,待测样品与标准样品具有相同楔角,在入射面垂直于激光轴线位移时,由于待测样品与标准样品在光路中的各自厚度发生变化,即激光外腔中的光程发生了变化,因此使激光输出光强曲线中产生回馈条纹。通过回馈条纹与位移量的关系,可以计算得到待测样品的折射率。本发明的折射率测量范围不受全反射原理的临界角限制,而且待测样品可以是透明固体、液体和气体,因此应用范围较广。本发明进一步提供一种测量透明介质折射率的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN102998284B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201210502668.7

  • 发明设计人 谈宜东;张鹏;张书练;牛海莎;

    申请日2012-11-30

  • 分类号G01N21/41(20060101);

  • 代理机构44311 深圳市鼎言知识产权代理有限公司;

  • 代理人哈达

  • 地址 100084 北京市海淀区北京100084-82信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:23:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-01-21

    授权

    授权

  • 2013-04-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/41 申请日:20121130

    实质审查的生效

  • 2013-03-27

    公开

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