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テラヘルツ波の反射による表面粗さを有する誘電体の屈折率測定法

机译:太赫兹波的折射率测量方法介质与表面粗糙度

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摘要

近年,光波と電波の間の周波数領域における電磁波であるテラヘルツ波(周波数0.1~10THz)の非破壊検査応用が進hでいる。テラヘルツ波はプラスチック·セラミックス·木材·塗料などを比較的よく透過するため,透視·内部欠陥検出·膜厚測定などの応用が報告されている。膜厚測定や断層イメージングにおいて,厚さや深さを得るにはテラヘルツ帯における誘電体の屈折率が必要である。通常,屈折率は透過型配置におけるテラヘルツ時間領域分光法(THz-TDS: Terahertz time domain spectroscopy)によって測定されるが,金属表面上の誘電体については反射型配置における測定が必要となる。例えば,金属表面上に溶射されたセラミックス製の耐熱コーティングの屈折率は溶射条件によって異なるため,セラミックス材料の屈折率が既知でも,溶射された膜の屈折率は不明であり,反射型配置で測定する必要がある。
机译:近年来,太赫兹波(频率0.1至10赫兹),这些光波和电波之间的频域的电磁波的非破坏性检查的应用程序,是进行性的。由于太赫波传输相对较好用塑料陶瓷,木材,涂料等,已经报道了应用,如荧光镜和内部缺陷检测和膜厚度测量。在膜厚度测量和断层摄影成像,在太赫兹频带中的电介质的折射率需要获得厚度和深度。通常,折射率由太赫兹时域谱分析测得:在传输类型的布置(太赫兹时域Terhertz时域光谱),但在金属表面上的电介质,需要在反射装置测量。例如,由于由陶瓷构成的耐热涂层的折射率在金属表面上热喷涂的变化取决于热喷涂条件,该陶瓷材料的折射率是已知的,喷涂薄膜的折射率是未知的,和在反射装置的测量是未知的。因此,需要到。

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