用于在多波段荧光显微镜中单独匹配激发强度的方法以及用于实施该方法的多波段荧光显微镜

摘要

本发明涉及用多个光谱的不同激发带和所属的荧光谱带在多波段荧光显微镜中单独匹配激发强度的方法。在显微镜图像中确定单个荧光谱带的强度，并且将其与大于或等于零的强度标准值进行比较。对于各个属于偏离强度标准值的荧光强度的激发带，在照明光路中为其装设一种选择滤光镜(23；28、29、31、32)，并且其透射比如此无级地来调节，使得通过激发带的衰减，所属荧光强度被调节到其强度标准值。用于实施该方法的多波段荧光显微镜在紧靠孔径光阑(5)处具有一个由具有选择滤光镜(23；28、29、31、32)的可单独移动的、并且间隔紧密的滤光镜闸门(21；21a、21b)组成的滤光镜闸门组(20)，其中的滤光镜对于各激发带具有连续可调的透射比，且具有至少一个敞露开口(22)。本发明还给出了滤光镜组(20)不同的有利布置。