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一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法

摘要

本发明涉及一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法,包括以下步骤:(1)进行有机玻璃试件银纹最大深度测量试验的准备工作;(2)调整有机玻璃试件使其处于测定银纹深度的最佳位置;(3)利用工具显微镜测量有机玻璃试件银纹最大深度;(4)记录有机玻璃试件银纹最大深度的测量结果,以作为银纹对有机玻璃力学性能影响研究的基本数据。本发明基于银纹的光学特性,即银纹在光线照射下有银色光泽,而有机玻璃其他部分具有透光性,提出了一种利用工具显微镜进行有机玻璃银纹最大深度测量的方法,可以有效测量有机玻璃中银纹的最大深度,试验操作简便,易于实现,成本低廉,适用于工程应用中有机玻璃银纹最大深度的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN103557806B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201310562602.1

  • 申请日2013-11-13

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人孟卜娟

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 09:22:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/22 授权公告日:20141210 终止日期:20161113 申请日:20131113

    专利权的终止

  • 2014-12-10

    授权

    授权

  • 2014-12-10

    授权

    授权

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/22 申请日:20131113

    实质审查的生效

  • 2014-03-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/22 申请日:20131113

    实质审查的生效

  • 2014-02-05

    公开

    公开

  • 2014-02-05

    公开

    公开

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