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衍射光学元件光学性能的测量装置及测量方法

摘要

一种用于投影光刻照明系统的衍射光学元件光学性能的测量装置及测量方法,该测量装置包括照明单元、能量监测单元、衍射光学元件固定支架、衍射图样测量单元和能量利用率测量单元。通过测量衍射光学元件产生的衍射图样及各级衍射光斑的能量分布,可准确地评价衍射光学元件的光学性能。本发明不仅可以实现对衍射光学元件产生的远场衍射图样的直接测量,而且可以实现对待测衍射光学元件的能量利用率、零级衍射效率及高阶衍射效率的测量。本测量装置结构简单,操作方便,测量结果准确可靠。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-22

    专利权的转移 IPC(主分类):G01M 11/02 登记生效日:20190926 变更前: 变更后: 申请日:20120608

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-10-01

    授权

    授权

  • 2014-10-01

    授权

    授权

  • 2012-12-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20120608

    实质审查的生效

  • 2012-12-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20120608

    实质审查的生效

  • 2012-10-17

    公开

    公开

  • 2012-10-17

    公开

    公开

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