发光二极管测试方法及在该方法中使用的发光二极管型材

摘要

一种发光二极管测试方法，包括步骤：提供引线框，该引线框包括外框及位于外框内的若干接线区，每一接线区包括第一引脚及与第一引脚断开的第二引脚；在引线框上形成绝缘的支架，支架覆盖各接线区并开设暴露各接线区第一引脚及第二引脚的凹槽；去除引线框的部分区域，使二第一侧壁与相邻的连接段及第二侧壁断开；在各凹槽内固定发光芯片并将发光芯片电连接至相应的第一引脚及第二引脚；在各凹槽内形成覆盖发光芯片的封装层；将电流引入相应的第一引脚及第二引脚而使至少一列发光芯片发光；及根据发光芯片的出光判断各发光芯片的工作情况或光学特性。该方法可减少测试时间，降低成本呢。本发明还公开了一种在上述方法中使用的发光二极管型材。