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一种提高直拉硅单晶电阻率均匀性的行波磁场法

摘要

本发明涉及一种提高直拉硅单晶电阻率均匀性的行波磁场法,其特征在于,通过在单晶炉外部安装行波磁场发生器,在拉晶过程中向硅熔体施加行波磁场;所述行波磁场发生器采用圆筒型发生器,圆筒型发生器产生的圆筒型行波磁场使硅熔体的对流具有轴对称性,行波磁场N极和S极的间距为1~50cm,磁场的最大强度为400~800Gauss,磁场速度为1~4cm/s;通过磁场作用,促进同一水平高度的硅熔体对流,稳定硅熔体对流形状和强度,通过调整对流路径和增加对流强度,最终使掺杂剂在硅熔体中的分布更佳均匀,有效促进硅熔体的对流,抑制高浓度掺杂剂的向下沉积问题,提高直拉重掺硅单晶的径向电阻率均匀性。

著录项

  • 公开/公告号CN102586862B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201210059757.9

  • 申请日2012-03-08

  • 分类号C30B15/00(20060101);C30B15/04(20060101);C30B15/20(20060101);C30B29/06(20060101);

  • 代理机构12105 天津中环专利商标代理有限公司;

  • 代理人莫琪

  • 地址 300384 天津市西青区华苑产业园区环外海泰东路12号

  • 入库时间 2022-08-23 09:20:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-07

    专利权的转移 IPC(主分类):C30B 15/00 登记生效日:20190520 变更前: 变更后: 申请日:20120308

    专利申请权、专利权的转移

  • 2018-11-20

    专利权的转移 IPC(主分类):C30B 15/00 登记生效日:20181101 变更前: 变更后: 申请日:20120308

    专利申请权、专利权的转移

  • 2018-11-20

    专利权的转移 IPC(主分类):C30B 15/00 登记生效日:20181101 变更前: 变更后: 申请日:20120308

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-07-30

    授权

    授权

  • 2014-07-30

    授权

    授权

  • 2014-07-30

    授权

    授权

  • 2012-09-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B15/00 申请日:20120308

    实质审查的生效

  • 2012-09-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B15/00 申请日:20120308

    实质审查的生效

  • 2012-09-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B 15/00 申请日:20120308

    实质审查的生效

  • 2012-07-18

    公开

    公开

  • 2012-07-18

    公开

    公开

  • 2012-07-18

    公开

    公开

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