首页> 中国专利> 测量透明平板表面形貌的相位共轭干涉仪

测量透明平板表面形貌的相位共轭干涉仪

摘要

一种测量透明平板表面形貌的相位共轭干涉仪,包括产生干涉光束的物光和参考光。物光是由激光光源发射的激光束经第三透镜和第二透镜的平行光束射到待测透明平板上后反射回的光束经第二透镜,经过第一分束器的反射后,透过第四透镜、第二分束器、第三分束器、第五透镜至光折变晶体,由光折变晶体返回再经第五透镜至第三分束器。参考光是由待测透明平板反射回来的激光束经过第二透镜,经过第一分束器的反射后,再透过第四透镜射到第二分束器上,由第二分束器反射的光束经第一反射镜、第七透镜、第六透镜和第二反射镜至第三分束器与物光相遇产生干涉。与在先技术相比,本发明在物光的光路上置有光折变晶体产生共轭光,使测量灵敏度提高了一倍。

著录项

  • 公开/公告号CN1147703C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-04-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN02111735.7

  • 发明设计人 钱锋;王向朝;王学锋;

    申请日2002-05-17

  • 分类号G01B9/02;G01B11/24;

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-07-22

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2004-04-28

    授权

    授权

  • 2003-02-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-11-13

    公开

    公开

  • 2002-08-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号