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CMP浆料及使用该浆料进行抛光的方法

摘要

本发明涉及一种当用于例如对氧化硅层进行抛光或使其平坦化时能够减少凹陷的产生的CMP浆料,并涉及一种抛光方法,所述CMP浆料包含一种抛光磨料、一种线型阴离子聚合物、一种包含磷酸基的化合物和水,且CMP对氧化硅层的抛光速度∶CMP对氮化硅层的抛光速度的比率为30∶1至50∶1。

著录项

  • 公开/公告号CN101959983B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社LG化学;

    申请/专利号CN200980107520.X

  • 发明设计人 金钟珌;曹昇范;鲁埈硕;金长烈;

    申请日2009-03-03

  • 分类号H01L21/302(20060101);C09G1/02(20060101);

  • 代理机构11285 北京北翔知识产权代理有限公司;

  • 代理人钟守期;苏萌

  • 地址 韩国首尔

  • 入库时间 2022-08-23 09:19:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-30

    授权

    授权

  • 2011-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):C09G 1/02 申请日:20090303

    实质审查的生效

  • 2011-01-26

    公开

    公开

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