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一种测定高纯试剂中贵金属离子含量的前处理方法

摘要

本发明公开了一种测定高纯试剂溶液中贵金属离子含量的前处理方法。以高纯试剂溶液为原料,通过固载有聚乙烯双硫腙复膜树脂的前处理柱,用洗脱剂洗脱富集的贵金属离子后定容,得到的高纯试剂前处理液用原子吸收光谱仪测定其中的贵金属离子含量,其测得的结果与用X荧光分析仪测得的结果相符。本发明方法与现有技术相比较,操作简单易行,采用加压超滤对高纯试剂中的贵金属离子进行富集,得到的前处理液无需进行后处理,可直接进样用原子吸收光谱仪测定高纯试剂中贵金属离子的含量。

著录项

  • 公开/公告号CN102175500B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海化学试剂研究所;

    申请/专利号CN201010602512.7

  • 发明设计人 宋振;曹旭妮;

    申请日2010-12-23

  • 分类号

  • 代理机构上海开祺知识产权代理有限公司;

  • 代理人费开逵

  • 地址 200333 上海市普陀区真北路401号

  • 入库时间 2022-08-23 09:19:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-06-17

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01N 1/34 变更前: 变更后: 申请日:20101223

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2014-07-09

    授权

    授权

  • 2012-08-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 1/34 申请日:20101223

    实质审查的生效

  • 2011-09-07

    公开

    公开

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