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用于实现基于模型的扫描器调整方法

摘要

本发明公开了一种用于实现基于模型的扫描器调整方法,所述方法采用参考光刻系统对第一光刻系统进行调整,所述参考光刻系统和第一光刻系统中的每个都具有用于控制成像性能的可调整参数。所述方法包括以下步骤:定义测试图案和成像模型;采用参考光刻系统对测试图案进行成像并测量成像结果;采用第一光刻系统对测试图案进行成像并测量成像结果;采用对应于参考光刻系统的成像结果对成像模型进行校准,其中经过校准的成像模型具有第一组参数值;采用对应于第一光刻系统的成像结果对经过校准的成像模型进行调整,其中经过调整的被校准的模型具有第二组参数值;以及基于第一组参数值和第二组参数值之差调整第一光刻系统的参数。

著录项

  • 公开/公告号CN102063022B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASML荷兰有限公司;

    申请/专利号CN201110009511.6

  • 发明设计人 叶均;曹宇;

    申请日2008-08-22

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人王波波

  • 地址 荷兰维德霍温

  • 入库时间 2022-08-23 09:19:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-06-25

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20080822

    实质审查的生效

  • 2011-05-18

    公开

    公开

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