首页> 中国专利> 用于分析样品的光谱方法和用于分析样品的光谱系统

用于分析样品的光谱方法和用于分析样品的光谱系统

摘要

用于分析样品(298)的光谱方法(100)及其光谱系统(200)。提供(101)了包括具有特征第一吸收峰的第一化学组分的样品。在接近于第一吸收峰的测量波段下以及在第一化学组分没有特征吸收特性的第一和第二参考波段下照射(102)该样品。获得(103)反射或者透射的探测数据,其包括接近于第一吸收峰的测量功率和在参考波段的第一和第二参考功率。使用探测数据对求出(104)多个不同波段比的值,以生成多个测量波段比值。然后通过把测量波段比值替代到校准关系式中而求出多元多项式校准方程的值,来确定(105)第一化学组分的参数,所述多元多项式校准方程把第一化学组分的参数关联到多个不同波段比。

著录项

  • 公开/公告号CN102369428B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 霍尼韦尔阿斯卡公司;

    申请/专利号CN201080014416.9

  • 申请日2010-03-29

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张晓冬

  • 地址 加拿大安大略省

  • 入库时间 2022-08-23 09:19:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-05-14

    授权

    授权

  • 2012-05-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/31 申请日:20100329

    实质审查的生效

  • 2012-03-07

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号