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用于碳化硅器件的双保护环边缘终端和制造具有双保护环边缘终端的碳化硅器件的方法

摘要

提供了用于半导体器件的边缘终端结构,包括在半导体层中的多个隔开的同心浮置保护环,至少部分环绕半导体结。隔开的同心浮置保护环具有重掺杂部分和轻掺杂部分。在此还提供了制作器件的相关方法。

著录项

  • 公开/公告号CN101981700B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 克里公司;

    申请/专利号CN200980111322.0

  • 发明设计人 张清纯;C·乔纳斯;A·K·阿加瓦尔;

    申请日2009-02-05

  • 分类号H01L29/06(20060101);

  • 代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人金晓

  • 地址 美国北卡罗莱纳

  • 入库时间 2022-08-23 09:19:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-05-14

    授权

    授权

  • 2011-04-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/06 申请日:20090205

    实质审查的生效

  • 2011-02-23

    公开

    公开

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