法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-02-16
专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20180130 变更前: 变更后: 申请日:20100920
专利申请权、专利权的转移
2016-10-12
专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20160919 变更前: 变更后: 申请日:20100920
专利申请权、专利权的转移
2016-10-12
专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/336 变更前: 变更后: 申请日:20100920
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2016-10-12
专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/336 变更前: 变更后: 申请日:20100920
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2016-10-12
专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20160919 变更前: 变更后: 申请日:20100920
专利申请权、专利权的转移
2014-04-30
授权
授权
2014-04-30
授权
授权
2011-06-15
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/336 申请日:20100920
实质审查的生效
2011-06-15
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/336 申请日:20100920
实质审查的生效
2011-04-27
公开
公开
2011-04-27
公开
公开
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机译: 沟槽型栅极的金属氧化物半导体场效应晶体管组件的制造方法,涉及在半导体衬底中形成沟槽,并在沟槽的内壁进行栅极氧化覆膜
机译: 形成场效应晶体管的方法,形成场效应晶体管栅极的方法,形成包括晶体管栅极阵列和外围于该栅极阵列的电路的集成电路的方法,以及形成包括晶体管栅极阵列的集成电路的方法,该晶体管栅极阵列包括第一栅极和第二接地隔离门
机译: 形成场效应晶体管的方法,形成场效应晶体管栅极的方法,形成包括晶体管栅极阵列和外围于该栅极阵列的电路的集成电路的方法,以及形成包括晶体管栅极阵列的集成电路的方法,该晶体管栅极阵列包括第一栅极和第二接地隔离门