首页> 中国专利> 三掩膜形成屏蔽栅极沟槽场效应晶体管的方法及器件

三掩膜形成屏蔽栅极沟槽场效应晶体管的方法及器件

摘要

在带有三掩膜屏蔽栅工艺的沟槽中直接接触,本发明提出了一种半导体器件及其制备方法。在半导体衬底上使用沟槽掩膜,刻蚀衬底形成三种不同宽度的沟槽。第一导电材料形成在沟槽底部。第二导电材料形成在第一导电材料上方。绝缘层将第一和第二导电材料分隔开。第一绝缘层沉积在沟槽上方。本体层形成在衬底的顶部。源极形成在本体层中。在沟槽和源极上方使用第二绝缘层。在第二绝缘层上方使用接触掩膜。形成穿过第二绝缘层的源极和栅极接头。源极和栅极金属形成在第二绝缘层上方。

著录项

  • 公开/公告号CN102034712B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 万国半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN201010294426.4

  • 申请日2010-09-20

  • 分类号H01L21/336(20060101);H01L29/78(20060101);H01L29/06(20060101);

  • 代理机构31272 上海申新律师事务所;

  • 代理人竺路玲

  • 地址 美国加利福尼亚州桑尼维尔奥克米德大道475号

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-02-16

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20180130 变更前: 变更后: 申请日:20100920

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-10-12

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20160919 变更前: 变更后: 申请日:20100920

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-10-12

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/336 变更前: 变更后: 申请日:20100920

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-10-12

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/336 变更前: 变更后: 申请日:20100920

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-10-12

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20160919 变更前: 变更后: 申请日:20100920

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-04-30

    授权

    授权

  • 2014-04-30

    授权

    授权

  • 2011-06-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/336 申请日:20100920

    实质审查的生效

  • 2011-06-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/336 申请日:20100920

    实质审查的生效

  • 2011-04-27

    公开

    公开

  • 2011-04-27

    公开

    公开

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