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能有效进行氢钝化的半导体器件的制造方法

摘要

一种制造半导体器件的方法,包含的步骤有:在硅基片上热生长由氧化硅构成的第一绝缘层(13);在第一绝缘层上形成栅电极(14);在栅电极上形成第二绝缘层(16);在第二绝缘层上形成电容器下电极(21);在电容器下电极上形成电容器介电层(22);在电容器介电层上形成一电容器上电极(23);在电容器上电极上形成第三绝缘层(24);在第三绝缘层形成之后,以第一温度进行氢钝化;在氢钝化完成之后,在第三绝缘层上形成第一金属布线层(31);以比第一温度低的第二温度,在第一金属布线层上形成第四绝缘层(32);在第四绝缘层上形成第二金属布线层(41);且以比第一温度低的第三温度,在第二金属布线层上形成钝化层(42)。

著录项

  • 公开/公告号CN1127125C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2003-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN99109234.1

  • 发明设计人 中岛龙史;

    申请日1999-06-23

  • 分类号H01L21/324;H01L21/8242;

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人朱进桂

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/324 授权公告日:20031105 终止日期:20150623 申请日:19990623

    专利权的终止

  • 2016-08-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/324 授权公告日:20031105 终止日期:20150623 申请日:19990623

    专利权的终止

  • 2013-09-25

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/324 变更前: 变更后: 登记生效日:20130905 申请日:19990623

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-09-25

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/324 变更前: 变更后: 登记生效日:20130905 申请日:19990623

    专利申请权、专利权的转移

  • 2007-04-04

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 变更前:

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 2007-04-04

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前:

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 2007-04-04

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20070302 申请日:19990623

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 2007-04-04

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20070302 申请日:19990623

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 2003-11-05

    授权

    授权

  • 2003-11-05

    授权

    授权

  • 2003-06-18

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移 变更前: 变更后:

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移

  • 2003-06-18

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20030425 申请日:19990623

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移

  • 2003-06-18

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20030425 申请日:19990623

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移

  • 2003-06-18

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移

    专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移

  • 2000-01-12

    公开

    公开

  • 2000-01-12

    公开

    公开

  • 1999-11-10

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 1999-11-10

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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